SNOM

El microscopio óptico de barrido de campo cercano (NSOM) (MultiView 4000 SPM/SNOM Microscope System, marca Nanonics) es un equipo integrado que sirve para adquisición simultánea de topografía e imagen óptica de campo cercano, que pertenece a la familia de la microscopia de sonda de barrido (SPM). Esta técnica de microscopia sirve para la investigación de materiales a escala nanométrica ya que rompe el límite de resolución óptica situando el detector muy cerca de la muestra (a distancias más cortas que la longitud de onda, λ). Así la resolución de las medidas está limitada por la apertura del sensor (una fibra óptica) y no por la longitud de onda de la luz con la que se ilumina. Es una técnica muy versátil que se puede adaptar para el estudio de diferentes tipos de muestras y permite el análisis de distintas propiedades ópticas de los materiales como el índice de refracción, el campo evanescente o el estrés local.

El equipo se utiliza en modo colección que es un modo de adquisición que permite caracterizar muestras opacas, aunque el sistema dispone de un  eje óptico completamente libre para permitir tanto un acceso superior (posibles medidas en modo reflexión) como inferior (posibles medidas en modo transmisión). El sistema dispone de un doble sistema de barrido de punta y muestra, con un doble sistema piezoeléctrico que permite su uso simultáneo o independiente en función del tipo de experimento.  Permite realizar barridos moviendo la muestra, moviendo la punta o ambos sistemas. Dicho sistema de barrido punta-muestra es completamente compatible con un microscopio óptico recto manteniendo el eje óptico completamente libre. El rango de barrido para la muestra es de 70 micras y un rango de 40 micras para la punta. El sistema es muy flexible y personalizable, pudiendo ser programado por el propio usuario utilizando el software LABVIEW.

El sistema permite el uso de puntas de fibra óptica curvada de SPM y NSOM así como de puntas especiales para medidas térmicas, por ejemplo. Trabaja con sistemas resonantes  de fuerzas normales a la superficie (Normal Force tunning fork feedback) que permiten realizar curvas de fuerza o medidas de tapping usando las fibras SNOM.

Este equipo estándar se complementa con un sistema de posicionamiento home-made compatible con las medidas de NSOM, para permitir la correcta iluminación de las muestras diseñadas en el NTC

SNOM EQUIPMENT

Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) tailored MultiView 4000 system (Nanonics Imaging Ltd)

Además de los elementos descritos, al equipo estándar se le ha añadido un hardware adicional que se compone de dos sistemas de posicionamiento (3D) para iluminación vertical (con opción de graduar un cierto ángulo) de la muestra. Dicha iluminación se hace con un láser disponible en el laboratorio (con todos los elementos característicos del láser).

Electrónica de control

Ordenador y software especializado de control y proceso de datos

Fuente de luz fría

Campana de aislamiento acústico y electromagnético

Mesa antivibratoria

Microscopio óptico

Mesa de posicionamiento de muestra, escáneres y cabezal del NSOM

Cabezal de NSOM (con portapuntas y puntas especiales para AFM y NSOM)

Detector de infrarrojos (Detector InGaAS)

Mesa óptica